Test In-Situ de cartes électroniques

Capacités

Nos domaines d'expertise :

• Traitement CAO sous Test-Expert (All CAD)
• Lit à clous ou Flying probe (Keysight, SPEA, Teradyne, …)
• Conception mécanique :
  • Interface lit à clous
  • Double niveaux (mécanique, pneumatique, vide)
  • Xprobe technologie   
• Conception de cartes électroniques :
  •  Relais, adaptation, communication, capteur
• Développement logiciel
  • Ict , Jtag, programmation, fct
• Conception d'IHM spécifiques :
  • Gestion de panneau, instruction opérateur

Expertise et technologies de test mises en œuvre :

• Conception pour le test (DFT) / rapport de testabilité
• Test BoundaryScan / JTAG
• Programmation de composants
• Automatisation complète ou intégration de cobotique
• Systèmes de test à sonde mobile
• Interface de test lit à clous (double niveau)
• Connaissance des principaux testeurs : Teradyne TS, Testation, Spectrum, SPEA, Keysight 3070, Seica Flying Probe ...